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ISO標準下粗糙度測量：共聚焦偏差與大視野白光干涉儀（WLI...

半導體、超精密制造領域中，表面粗糙度測量精度直接決定產品質量與服役性能。激光共聚焦顯微鏡（LCM）存在工業樣品檢測偏差、重復性不佳的共性問題，且標準塊檢測數據正常...

ISO標準下粗糙度測量：共聚焦偏差與大視野白光干涉儀（WLI）應用

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光學輪廓測量在高溫高壓硬密封球閥平面度檢測中的應用

摘要：針對油氣、煤化工領域高溫高壓硬密封球閥（High-temperature and High-pressure Hard-seal Ball Valve）密封...

光學輪廓測量在高溫高壓硬密封球閥平面度檢測中的應用

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工業視覺核心元件精密檢測，依靠光學 3D 輪廓儀把控 CMO...

互補金屬氧化物半導體感光芯片（Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS）是機器視覺（Machine Vision...

工業視覺核心元件精密檢測，依靠光學 3D 輪廓儀把控 CMOS 感光芯片整體平整度

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MEMS 器件懸空間隙 (Air Gap)偏移，白光干涉...

微機電系統器件（Micro-Electro-Mechanical System, MEMS）懸空微結構懸空間隙（Air Gap），是決定器件力學響應與傳感精度的核...

MEMS 器件懸空間隙 (Air Gap)偏移，白光干涉儀檢測調校阻尼系數 (Damping Coefficient) 響應參數

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