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              新啟航半導體有限公司


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              2026
              -
              07
              BGA 共面度異常(Abnormal Coplanarity...
              摘要球柵陣列封裝(BGA, Ball Grid Array)焊球共面度(Coplanarity)超差是半導體SMT制程核心失效誘因,會直接造成焊點有效接觸面積波動...
              BGA 共面度異常(Abnormal Coplanarity of BGA)導致接觸電阻不穩定(Unstable Contact Resistance),采用白光干涉儀測量
              16
              2026
              -
              07
              激光共聚焦痛點與3D白光干涉儀技術突破
              在半導體及超精密制造領域,表面粗糙度測量精度直接決定產品質量與服役性能。激光共聚焦顯微鏡(LCM)存在工業樣品檢測偏差大、重復性差的行業共性問題,但其標準塊檢測數...
              激光共聚焦痛點與3D白光干涉儀技術突破
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              2026
              -
              07
              煤粉/灰渣輸送閥平面度工藝管控及光學輪廓測量質檢技術
              煤粉/灰渣輸送閥(Coal Powder/Ash Conveying Valve)是火電、煤化工氣力輸送系統(Pneumatic Conveying System...
              煤粉/灰渣輸送閥平面度工藝管控及光學輪廓測量質檢技術
              16
              2026
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              07
              全面優化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學 3D 輪廓儀快...
              FPC柔性印刷電路(Flexible Printed Circuit)憑借高彎折性、輕量化優勢,廣泛應用于消費電子與半導體封裝領域,其封裝制程中產生的板面翹曲不良...
              全面優化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學 3D 輪廓儀快速篩查板面翹曲不良(Warpage Defect)
              • 共104頁
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