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            新啟航半導(dǎo)體有限公司


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            激光顯微鏡彩色CMOS拜耳陣列(Bayer Array)對干...
            一、白光干涉測量優(yōu)選黑白CMOS的核心技術(shù)邏輯工業(yè)級白光干涉儀普遍標(biāo)配黑白CMOS。彩色CMOS的硬件結(jié)構(gòu)與成像算法會破壞干涉測量精度,而黑白CMOS可滿足納米級...
            激光顯微鏡彩色CMOS拜耳陣列(Bayer Array)對干涉條紋測量精度影響分析
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            多層陶瓷電容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC)是電子制造核心被動元器件,端電極銀漿(Silver Paste)的涂布厚度...
            光學(xué) 3D 輪廓儀精準(zhǔn)測量 MLCC 銀漿厚度(Silver Paste Thickness),筑牢疊層電容生產(chǎn)基礎(chǔ)(Production Foundation)
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            摘要微透鏡(Microlens)通光口徑(Aperture Size)的尺寸精度與邊緣輪廓質(zhì)量,直接決定光學(xué)系統(tǒng)光能利用率與成像一致性。光刻(Photolitho...
            微透鏡  通光口徑 (Aperture Size)成型異常,借助白光干涉儀排查微納加工 (Micro-nano Machining) 工藝弊病
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            微透鏡 中心偏芯 (Center Offset) 超標(biāo),白...
            一、微透鏡中心偏芯(Center Offset)制程偏差概述微透鏡(Microlens)中心偏芯(Center Offset)是微光學(xué)器件量產(chǎn)核心精度指標(biāo),定義為...
            微透鏡  中心偏芯 (Center Offset) 超標(biāo),白光干涉儀校準(zhǔn)光路制程偏差
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